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CHY-C2-测厚仪

CHY-C2-测厚仪

简要描述:CHY-C2-测厚仪
CHY-C2测厚仪技术参数

负荷量程 0 ~ 2 mm(常规)0 ~ 6 mm;12 mm (可选)
分辨率 0.1 μm
测量速度 10 次/min (可调)
测量压力 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积 50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电源 AC 220V 50Hz
外形尺寸 30

产品型号:

所属分类:超声波测厚仪

更新时间:2021-07-13

厂商性质:代理商

详情介绍

CHY-C2-测厚仪

 

CHY-C2测厚仪-塑料薄膜-纸张-铝箔-高精度测厚仪

CHY-C2测厚仪采用接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。
CHY-C2测厚仪严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
CHY-C2测厚仪测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
实时显示测量结果的*大值、*小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输
支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告

CHY-C2测厚仪该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

CHY-C2测厚仪应用

基础应用

薄膜薄片适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试
纸张适用于纸张、纸板的厚度测试
箔片、硅片、金属片适用于箔片、硅片、金属片的厚度测试
纺织、无纺布材料适用于纺织材料的厚度测试
固体电绝缘体适用于固体电绝缘体的厚度测试

扩展应用

量程扩展至5,10mm适用于测试薄膜、片材的厚度
测量头为曲面满足特殊场合的厚度测试

CHY-C2测厚仪技术参数

负荷量程  0 ~ 2 mm(常规)0 ~ 6 mm;12 mm (可选)
分辨率  0.1 μm
测量速度  10 次/min (可调)
测量压力  17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积  50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电源  AC 220V 50Hz
外形尺寸 300 mm (L) × 275 mm (W) × 300 mm (H)
净重  33 kg

CHY-C2测厚仪标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件
CHY-C2测厚仪选购件:专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码 

 

CHY-C2-测厚仪



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