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D50S-薄膜测厚仪

D50S-薄膜测厚仪

简要描述:D50S-薄膜测厚仪
瑞士SYLVACSA公司D50S薄膜测厚仪专注于检测数据的采集和传输,数显器内置精度修正系统。提供多种显示器、数据处理器、转换盒、扩展盒、数据线等并与SYLVACSA大行程位移传感器连接来解决多种测量问题,可连接单个传感器或同时连接多个传感器。

D50S薄膜测厚仪

产品型号:

所属分类:超声波测厚仪

更新时间:2021-07-13

厂商性质:代理商

详情介绍

D50S-薄膜测厚仪

 

瑞士D50S薄膜测厚仪

瑞士SYLVACSA公司D50S薄膜测厚仪专注于检测数据的采集和传输,数显器内置精度修正系统。提供多种显示器、数据处理器、转换盒、扩展盒、数据线等并与SYLVACSA大行程位移传感器连接来解决多种测量问题,可连接单个传感器或同时连接多个传感器。

D50S薄膜测厚仪特点及应用实例:

多功能数据处理器D50S
小巧经济,可同时接两个传感器
显示分辨率0.0001mm
RS232数据输出,可由脚踏开关控制读数
适宜**测量高度,厚度和直径
内置两点式修正程序
D50SPRO特殊配置25点精度修正程序

瑞士SYLVACSA公司大行程测头内置电容式传感器,可进行优良或比较测量,该测头可以与Sylvac D50S、D80S、D100S及D200S连接配合使用

 

D50S-薄膜测厚仪



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